膜厚儀能同時測量磁性基材表面的非磁性涂鍍層，以及非磁性金屬基材表面的非導電涂鍍層。本儀表內(nèi)置高精密雙探頭，利用電磁感應和渦流效應，全自動探測基材屬性，計算涂鍍層厚度，并通過點陣液晶快速顯示結(jié)果。
同時，測量數(shù)據(jù)可分組保存，并實時顯示統(tǒng)計值。用戶可分別為每組設(shè)置上下限報警值、零校準、多點校準。全新的多點校準和零校準，讓您非常方便的隨時進行校準。標準化菜單，確保您非常容易的使用它。
膜厚儀的特點：
A.大點陣液晶屏，標準化菜單操作；
B.兩種測量模式：單次和連續(xù)；
C.兩種組模式：直接組和通用組,一個直接組和四個通用組。直接組關(guān)機后數(shù)據(jù)自動全部清除。通用組數(shù)據(jù)將自動保存，關(guān)機不丟失。每組可存儲80個數(shù)據(jù)；
D.可零校準和多點校準。各組有單獨的零校準和多點校準，組與組之間不影響；
E.用戶可隨時查看當前工作組已測得的數(shù)據(jù)，并刪除數(shù)據(jù)或整組數(shù)據(jù)；
F.實時顯示當前工作組統(tǒng)計值：平均值,較小值，Max值,標準方差；
G.三種探頭模式：自動、磁感應和渦流；
H.可為各組單獨設(shè)置高低限報警值，超*屏幕指示報警；
I.可開啟或關(guān)閉自動關(guān)機功能；
J.USB接口可傳輸通用組數(shù)據(jù)到計算機；
K.低電和錯誤提示。
膜厚儀可以測量較大5層重疊薄膜的厚度和折射率。
可測量如氧化物，氮化物，光阻，導電玻璃，聚合物和半導體薄膜等透明或半透明薄膜。
